| Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik Contributor(s): Schmidt, Olaf (Author) |
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ISBN: 3867461945 ISBN-13: 9783867461948 Publisher: Examicus Verlag OUR PRICE: $61.28 Product Type: Paperback Language: German Published: January 2013 |
| Additional Information |
| BISAC Categories: - Computers | Programming Languages - General - Computers | Information Technology |
| Physical Information: 0.23" H x 5.83" W x 8.27" (0.30 lbs) 96 pages |
| Descriptions, Reviews, Etc. |
| Publisher Description: Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universit t Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Gr enordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Gr en wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und R ckschl sse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden ben tigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind. |